指紋模塊FPC貼片測(cè)試主要形式：ICT測(cè)試、FCT測(cè)試、老化測(cè)試、疲勞測(cè)試、惡劣環(huán)境下的測(cè)試五中形式。指紋模塊FPC廠每種測(cè)試的介紹如下：
1、ICT測(cè)試主要包含電路的通斷、電壓和電流數(shù)值及波動(dòng)曲線、振幅、噪音等等。
2、  FCT測(cè)試需要進(jìn)行IC程序燒制，對(duì)整個(gè)指紋模塊FPC貼片板的功能進(jìn)行模擬測(cè)試，發(fā)現(xiàn)硬件和軟件中存在的問(wèn)題，并配備必要的生產(chǎn)治具和測(cè)試架。
3、老化測(cè)試主要是將指紋模塊FPC貼片板及電子產(chǎn)品長(zhǎng)時(shí)間通電，保持其工作并觀察是否出現(xiàn)任何失效故障，經(jīng)過(guò)老化測(cè)試后的電子產(chǎn)品方可批量出廠銷售。

4、 疲勞測(cè)試主要是對(duì)指紋模塊FPC貼片板抽樣，并進(jìn)行功能的高頻、長(zhǎng)時(shí)間操作，觀察是否出現(xiàn)失效，比如持續(xù)點(diǎn)擊鼠標(biāo)達(dá)10萬(wàn)次或者通斷LED燈1萬(wàn)次，測(cè)試出現(xiàn)故障的概率，以此反饋電子產(chǎn)品內(nèi)指紋模塊FPC貼片板的工作性能。
5、惡劣環(huán)境下的測(cè)試主要是將指紋模塊FPC貼片板暴露在極限值的溫度、濕度、跌落、濺水、振動(dòng)下，獲得隨機(jī)樣本的測(cè)試結(jié)果，從而推斷整個(gè)指紋模塊FPC貼片板批次產(chǎn)品的可靠性。